Все дело только в объективах и алгоритмах дебайера. Понятно, что любая 16 МП матрица сама по себе легко даст 2000 или даже больше линий (конечно, ч/б яркостного разрешения), а 24 МП иногда и 3000 линий. А вот объективы могут и меньше 1000 дать, хоть на 24 МП, хоть на 16. Понятно, что если даже на 24 МП меньше 2К линий, то объектив мягкий, на 16 МП точно больше 2К не будет.
Если же объектив достаточно резкий, глаз четко везде и всюду различает больше 2000 линий, а измерено чуть больше 1000, то методика теста бесполезна. Скорее всего, она построена на анализе контраста, который максимум может сказать что-либо о характере детализации, но точно не о разрешении. И то, это при учете идеально идентичной экспозиции (а не с точностью+- 1/3 стопа) , применения идентичного профиля и всех параметров конвертации, чего, естественно, быть не может на разных матрицах. Так что, можно таким образом анализировать только лишь различные объективы на одной и той же матрице, но никак не разные матрицы с одним объективом.